產(chǎn)品中心PRODUCTS CENTER
技術(shù)文章您現(xiàn)在的位置:首頁 > 技術(shù)文章 > 薄膜厚度測(cè)量?jī)x的應(yīng)用和技術(shù)原理

薄膜厚度測(cè)量?jī)x的應(yīng)用和技術(shù)原理

更新時(shí)間:2013-11-12   點(diǎn)擊次數(shù):2734次
  薄膜厚度測(cè)試儀配備專業(yè)的儀器控制,光譜測(cè)量和薄膜測(cè)量功能的軟件,具有廣闊的應(yīng)用范圍。該薄膜厚度測(cè)試儀軟件能夠?qū)崟r(shí)采集吸收率,透過率,反射率和熒光光譜,并且能夠能夠快速計(jì)算出結(jié)果。
  
  對(duì)于吸收率/透過率模式的配置,所有的典型參數(shù)如A,T可快速計(jì)算出來。其他的非標(biāo)準(zhǔn)參數(shù),如signalintegration也能測(cè)量出來。
  
  對(duì)于反射率測(cè)量,薄膜厚度測(cè)試儀軟件能夠測(cè)量膜層小于10層薄膜厚度(《10nm到100微米),光學(xué)常量(n&k)。
  
  薄膜厚度測(cè)試儀應(yīng)用:
  
  薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量薄膜吸收率,透過率
  
  薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量化學(xué)薄膜和生物薄膜測(cè)量
  
  薄膜厚度測(cè)試儀光電子薄膜結(jié)構(gòu)測(cè)量
  
  薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)半導(dǎo)體制造
  
  薄膜厚度測(cè)試儀聚合物測(cè)量
  
  薄膜測(cè)量系統(tǒng)在線測(cè)量
  
  薄膜測(cè)量系統(tǒng)光學(xué)鍍膜測(cè)量
  
  這款薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)是超功能多樣的薄膜厚度測(cè)試儀,結(jié)合顯微鏡測(cè)量薄膜厚度,折射率和消光系數(shù)等
  
  杭州紙邦自動(dòng)化技術(shù)有限公司是浙江省高新技術(shù)企業(yè)、全國(guó)造紙工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)會(huì)員單位、全國(guó)生活用紙委員會(huì)會(huì)員單位、中國(guó)包裝協(xié)會(huì)會(huì)員單位、SAC/TC141委員、浙江省造紙學(xué)會(huì)理事單位、通過ISO9001質(zhì)量體系認(rèn)證,公司位于杭州濱江國(guó)家高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)。公司致力于造紙、包裝、印刷等行業(yè)檢測(cè)儀器的研發(fā)、制造,是行業(yè)內(nèi)的企業(yè)。注冊(cè)商標(biāo):“紙邦”。